局部放電量測（量測互感器）
Partial Discharge Measurement (Instrument Transformer)
適用設備：電力量測及計量 / 量測互感器（比流器 CT / 比壓器 VT）之例行試驗
局部放電量測（量測互感器）為 IEC 61869-1:2023 §7.3.2 例行試驗（CT / VT 通用），量測迴路依 IEC 60270、校正依 §5，靈敏度 5 pC、背景雜訊 < PD 限值 50%。程序 A：工頻耐壓後降壓中達 Table 4 之 PD 試驗電壓量測；程序 B：工頻耐壓後 ≤ 1h，升至 80% 工頻耐壓（最低 Um）維持 ≥ 60 s 再降至 PD 試驗電壓。各步 30 s 內量測、記錄 PDIV/PDEV。最大容許 PD 依 Table 4（接地系統 CT/接地 VT 液/氣 5 pC、固體 20 pC；隔離系統 @1.2Um 液/氣 10 pC、固體 50 pC；非接地 VT 5/20 pC）。
安全資訊 — 高風險
局部放電量測對受測互感器施加高工頻電壓（PD 試驗電壓達 1.2Um 級），具致命觸電風險。常於工頻耐壓後接續或 1h 內進行（程序 A/B），須遠端操作。背景雜訊抑制與量測迴路涉及高壓耦合電容；試驗後確認放電後始可接觸。
- 試驗室遠端操作（控制室隔離）
- 面罩 / 護目
- 絕緣手套
- 安全鞋
- 量測迴路與儀器依 IEC 60270；校正依 §5
- 靈敏度可偵測 5 pC；背景雜訊 < 待測 PD 限值之 50%
- 已確定中性點接地型式與互感器型式（查 Table 4）
- 程序 A（接續工頻耐壓）或 B（1h 內）已選定
- 背景雜訊 ≥ 待測 PD 限值 50%（無法可靠量測）
- 靈敏度不足 5 pC
- 程序 B 距工頻耐壓超過 1h（絕緣可能已恢復）
本檢測為 IEC 61869-1:2023 §7.3.2 規定之**例行試驗**（量測互感器通用），量測迴路依 IEC 60270、校正依 §5，靈敏度 5 pC、背景雜訊 < PD 限值 50%。程序 A：工頻耐壓後降壓中達 Table 4 之 PD 試驗電壓量測；程序 B：工頻耐壓後 ≤ 1h，升至 80% 工頻耐壓（最低 Um）維持 ≥ 60 s 再降至 PD 試驗電壓。30 s 內量測各步 PD；記錄 PDIV/PDEV 供診斷。最大容許 PD 依 Table 4（液/氣 5~10 pC、固體 20~50 pC）。
試驗接線圖
檢測四階段
出廠試驗 (Routine Test)
適用例行試驗。依 IEC 60270 量測，程序 A 或 B，限值依 Table 4。
**準備（§7.3.2.1）** 1. 量測迴路與儀器依 IEC 60270；以 pC 量測視在電荷、校正依 §5。 2. 靈敏度可偵測 5 pC；背景雜訊 < 待測 PD 限值 50%（可用平衡迴路抑制外部雜訊）。 3. 依中性點接地型式 + 互感器型式查 Table 4 之 PD 試驗電壓與限值。 **施加（§7.3.2.2，擇程序 A 或 B）** 4. 程序 A：工頻耐壓後降壓過程中達 Table 4 之 PD 試驗電壓量測。 5. 程序 B：工頻耐壓後 ≤ 1h，升至 80% 工頻耐壓電壓（最低 Um）維持 ≥ 60 s，不間斷降至 PD 試驗電壓。 6. 各步 30 s 內量測 PD；記錄起始電壓 PDIV、熄滅電壓 PDEV 供診斷。 **判定** 7. 量測 PD 不超過 Table 4 限值（液/氣 5~10 pC、固體 20~50 pC，依系統與型式）。
- 為例行試驗（每一生產之互感器）
- 量測迴路依 IEC 60270、校正依 §5、靈敏度 5 pC
- 背景雜訊 < 待測 PD 限值 50%（可用平衡迴路）
- 程序 A（接續工頻耐壓降壓）/ B（1h 內升 80% 工頻耐壓再降）
- 各步 30 s 內量測；記錄 PDIV/PDEV 診斷
- 限值 Table 4：液/氣 5~10 pC、固體 20~50 pC（依系統 + 型式）
執行頻率：例行試驗，每一生產之互感器皆執行
來源：IEC 61869-1 (2023), Clause 7.3.2.1
試驗設備
- 局部放電量測系統 — 依 IEC 60270，以 pC 量測視在電荷、校正依 §5、靈敏度 5 pC
- 試驗電壓產生器 + 耦合電容 — 達 Table 4 之 PD 試驗電壓（1.2Um 級）；含耦合電容 Ck
- 平衡量測迴路（選用） — 抑制外部雜訊（背景 < 限值 50%）
- 防護屏障 + 遠端操作控制室 — 隔離人員
相關名詞
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